Консультации по методам анализа
- Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF)
-
XRF (x-ray fluorescence analysis, рентгенофлуоресцентный анализ) основан на возбуждении характеристического рентгеновского излучения в материале пробы с помощью первичного излучения от рентгеновской трубки и дальнейшей регистрации получаемого сигнала. Метод XRF является экспрессным, позволяет за минимальный период времени получить полную и достоверную информацию о качественном и количественном химическом составе материала.
Виды консультаций:
Работа в ПО OXSAS:
- Навигация по основным вкладкам
- Подготовка и создание аналитической программы
- Качественный и количественный анализ неизвестной пробы
- Формирование отчета
- Использование установочных образцов для коррекции дрейфа прибора
Работа в ПО UniQuant:
- Анализ пробы неизвестного состава.
- Настройка общих данных.
- Создание сокращенного метода.
- Создание каппа-листа для анализа определенного вида материала.
- Коррекция дрейфа прибора.
Объекты исследования:
- Подбор оборудования, расходных материалов и режимов подготовки проб методом прессования.
- Подбор оборудования, расходных материалов и режимов подготовки проб методом плавления.
- Рентгенофазовый анализ (XRD)
-
XRD — дифракционный метод исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трёхмерной кристаллической решётке.
Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также определить группу симметрии кристалла.
Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространённым методом определения структуры вещества в силу его простоты, универсальности.
Виды консультаций
-
Работа в ПО Crystallographica Search-Match, ICDD PDF-2+Sieve, Match!, SiroQuant, XRDServer и т.д.
-
Направленные исследования образцов Заказчика (в т.ч. на площадке Заказчика) для обеспечения максимально достоверного качественного и количественного РФА
-
Создание шаблонов для автоматического количественного РФА в ПО XRDServer.
-
Разработка специализированных программных и аппаратных решений.
-
Конфигурирование оборудования и ПО под задачи Заказчика.
-
Разработка прописей МВИ
-
- Оптико-эмиссионный спектральный анализ
-
OES (Optical Emission Spectroscopy) основан на возбуждении материала твердой металлической пробы серией искровых разрядов, регистрации спектра излучения и расчета концентрации химических элементов по калибровочным зависимостям. Обладает очень коротким временем анализа (10…55 сек), высокой чувствительностью и точностью.
Пробоподготовка также проста - как правило применяется шлифовка поверхности на наждачном камне или бумаге для черных металлов, а для цветных металлов рекомендуется токарная или фрезерная обработка.
Виды консультаций
Работа в ПО OXSAS:
- Способы навигации внутри ПО
- Выполнение анализа неизвестной пробы
- Выполнение стандартизации
- Контроль параметров прибора при помощи ПО
- Профилирование спектрометра
- Создание аналитической программы
- Работа с базой данных результатов
- Передача результатов измерения в сеть
- Выполнение архивирования и восстановления резервной копии
- Пересчет результатов измерения после коррекции спектрометра
- Выполнение анализа пробы с использованием типовой стандартизации
- Работа с различными типами стандартных образцов
- Работа с программой множественной регрессии MVR
- Передача данных в программы SPC
- Методика добавления образца на базовую кривую
- Применение различных типов коррекций межэлементных влияний
- Разработка методов контроля неметаллических включений с использованием алгоритмов анализа индивидуальных разрядов Spark-DAT
Работа с программами статистического контроля:
- SPC LightHouse Software
- SPC Synergy
- Промышленная рентгеновская томография
-
Рентгеновская компьютерная томография (КТ) — неразрушающий метод анализа внутренней структуры объекта с различной точностью: макротомография (до миллиметра), микротомография (до микрона) и нанотомография (до сотен нанометров). Основой метода является закон поглощения рентгеновского излучения веществом. Величина поглощения зависит от материала и толщины контролируемого объекта, а также от интенсивности и энергии излучения.
Виды консультаций:
Вопросы по функционалу управляющего программного обеспечения:
- Навигация по основным вкладкам.
- Подбор воксельного разрешения сканирования.
- Выбор параметров работы рентгеновской трубки системы КТ.
- Определение параметров детектора системы КТ.
- Создание проекта сканирования образца.
Вопросы по функционалу программного обеспечения для реконструкции данных:
- Загрузка оригинальных данных по результатам сканирования образца.
- Подбор параметров реконструкции.
- Подбор методов корректировки и устранения артефактов изображения.
- Создание реконструированной модели образца.
Вопросы по функционалу программного обеспечения для моделирования
- Навигация по интерфейсу и программным пакетам.
- Загрузка и подготовка (препроцессинг) данных объемной модели.
- Сегментация данных.
- Создание модели и подбор параметров расчета на основе сегментированных данных для различных свойств:
- Геометрические свойства объемной модели — определение параметров пустотного и пространства и различных фаз материала в образце, анализ зерен материала и волокон композиционных материалов с использованием моделей ИИ.
- Потоковые свойства — модель абсолютной проницаемости, двухфазный поток, расчет фильтрационных свойств материала, реактивный поток, диффузия.
- Электрические и температурные свойства — индекс сопротивления, показатель цементации, анализ модели Li-ion батарей и моделирование заряда аккумуляторов, расчет теплопроводности.
- Механические свойства — модуль упругости и жесткости, моделирование деформации и разрушения образца, акустические свойства.
- Создание объемной модели нового композиционного материала на основе данных проанализированного образца или согласно дизайну.
- Создание отчета по результатам анализа образца.